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NI PXIE - 4145 四通道精密源测量单元模块
产品描述
NI PXIE - 4145 是一款专为高引脚数测试应用精心打造的四通道源测量单元（SMU）模块，在半导体器件测试、MEMS 系统检测以及 RF 集成电路供电等精密测试测量场景中发挥着关键作用。该模块具备四象限运行能力，能灵活应对各种复杂电气特性测试需求，各通道均集成远程（4 线）传感技术，有效消除线缆电阻等因素造成的测量误差，确保高精度测量结果。
在半导体芯片的 I-V 特性测试中，利用 PXIE - 4145 的高速采样率，可在短时间内完成大量数据采集，快速捕捉芯片的瞬态特性，测试效率较传统仪器提升 30%，且测量精度达到皮安级，为芯片性能评估提供可靠依据。在 MEMS 传感器的开路短路测试中，通过其多通道协同工作能力，同时对多个传感器进行检测，4 个通道并行测试，每小时可检测 2000 个传感器，大大提高测试通量，精准定位故障元件，降低次品率 5%。其内置的 SourceAdapt 技术更是一大亮点，可针对不同负载特性对控制回路进行精准调节，实现响应速度与稳定性的完美平衡，输出无过冲、无振荡的理想瞬态响应。
模块采用紧凑的 PXI Express 总线架构，便于集成至各类测试系统中，搭配高速序列引擎，不仅能实现多 SMU 模块间的同步工作，还可与开关、高速数字测试模块等其他仪器协同作业，构建高度自动化、高效的测试平台，广泛适配科研机构、电子产品制造企业等的多样化测试需求。
